检测需求

电子元器件类产品缺陷检测及引脚外壳等尺寸测量。

项目难点

针对电子元器件类多引脚，且多轴向的检测需求。一般的光学系统要分多工位重复检测才能达到要求。同一个方向上，有不同深度的特征点需要同步检测（多层引脚或多方向接口等）这样没办法一次性清晰成像。

解决办法

使用BT系列双远心镜头。

针对电子元器件类多引脚，且多轴向的检测需求。一般的光学系统要分多工位重复检测才能达到要求。远心光学系统因为有超大景深的特性，景深范围可超出普通镜头的20%-30%以上。故在检测电子元器件类产品时，可以实现完美一次性检测，省去了更多的硬件成本，精度和效率都能有效保证。